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通過測(cè)量作物冠層PAR值提供了關(guān)于影響田間作物生長的限制因素的有價(jià)值的信息，如葉面積指數(shù)（LAI）。SunScan探測(cè)器也可被用來描繪作物冠層PAR的分布圖。
更新時(shí)間：2024-06-19
冠層多譜輻射計(jì)可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研。儀器具有TFT彩屏顯示接口、GPRS無線通訊接口、GPS定位接口等，可根據(jù)用戶須求升級(jí)硬件。實(shí)現(xiàn)光譜數(shù)據(jù)遠(yuǎn)程傳輸和GPS定位導(dǎo)航功能。
更新時(shí)間：2024-06-19
植物冠層分析儀可廣泛應(yīng)用于農(nóng)業(yè)生產(chǎn)和農(nóng)業(yè)科研，為進(jìn)行冠層光能資源調(diào)查，測(cè)量植物冠層中光線的攔截，研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能利用間的關(guān)系.
更新時(shí)間：2024-06-19
通過測(cè)量作物冠層PAR值提供了關(guān)于影響田間作物生長的限制因素的有價(jià)值的信息，如葉面積指數(shù)（LAI）。SunScan探測(cè)器也可被用來描繪作物冠層PAR的分布圖。由于采用了無線發(fā)射、接受技術(shù)，使測(cè)量更加方便快捷。
更新時(shí)間：2024-06-19
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